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  細径同軸ケーブル用フィクスチャのDe-Embedding
    

測定状態


2xThrough治具

    1.細径同軸ケーブルフィクスチャで被測定同軸ケーブルをVNAで測定する。
     この状態では、被測定同軸ケーブルに細径同軸ケーブル用フィクスチャ
     2台分の特性が加算された測定値が求まる。
     フィクスチャ特性を測定値から除去する手段としてVNAのDe-Embedding
     が有効である。
     De-Embeddingを実行するにはフィクスチャのSパラを求める必要があるが
     フィクスチャの構造上、非常に困難な場合が多かった。
     PLTSのAFRを用いるとフィクスチャの2倍長の伝送路を形成する事でSパラ
     を求める事が可能となる。
    2.測定に使用したフィクスチャを2xThrough治具で対向させて接続し2倍長
     の伝送路を形成する。
     VNAを接続してS2Pファイルを取得する。
    3.2xThrough治具で取得したS2PファイルをPLTSに取り込む。
    4.PLTSのAFRを使用してフィクスチャ単体のS2Pファイルを生成する。
     2xThrough治具で求めたS2Pファイルはフィクスチャ2台分の特性。
     AFRを使用する事で中央で半分に分離した各1台分のS2Pファイルが求まる。
    5.AFRで求まったフィクスチャ各1台のS2PファイルをVNAに取り込む。
     VNAのPortに接続したフィクスチャのS2Pファイルを付加する。
    6.VNAで被測定同軸ケーブルを測定している状態でDe-Embeddingを実行する。
     これにより、フィクスチャの特性が除去される。


                    S21
    
      De-Embedding=ONでフィクスチャのロスが除去されている。
                    S11
    
       De-Embedding=ONでフィクスチャ内部の反射が除去されている。
       De-Embedding=OFFで発生していたフィクスチャ内部の多重反射による
       ピーク・ディップが除去されている。